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高壓加速老化試驗箱,pct高壓加速老化試驗機,高加速壽命試驗-正航儀器設備
高壓加速老化試驗箱
    PCT老化試驗機用途:   試驗箱磁性材料檢測的新寵,用磁性材料改進的存儲器稱為磁電隨機存取存儲器(M eRAM)。它極有可能被用來制造未來的存儲芯片,這樣的芯片既可以用在幾乎所有的電子應用,包括智能手機、平板電腦、計算機及微處理器中,也可以用于數據儲存,例如計算機和大型數據中心使用的固態硬盤中。 ...
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    高壓加速老化試驗箱使用的環境要求: ▲、地面平整,通風良好,不含易燃、易爆、腐蝕性氣體和粉塵! ▲、附近沒有強電磁輻射源! ▲、設備周圍留有適當的維護空間! ▲、溫度:5℃~30℃(24小時內的平均溫度≤30℃)! ▲、相對濕度:≤85%RH(夏季使用要開啟空調)   ▲、氣壓:86~106kpa。 ...
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    產品名稱:PCT高壓加速老化試驗 我司在PCT高壓加速老化試驗箱內膽,為了能夠更加好的符合國家安全容器標準,,帶有復合可以防止試驗結露滴水現象,能夠避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果的PCT高壓加速老化試驗箱內膽采用圓弧設計,從而避免配備雙層不銹鋼產品架,也可根據客戶產品規格尺寸免費量身定制專用產品架。 ...
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     高壓加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力與工作應力,加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。 ...
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